XF-U 2.5-1
H-Feldsonde 30 MHz bis 6 GHz
 
        				
        					
        						 
        					
        
        					Kurzbeschreibung
Die H-Feldsonde XF-U 2,5-1 ist eine Nahfeldsonde. Sie dient der selektiven Erfassung des HF-Stromes in Leiterzügen, SMD-Bauteilen und IC-Pins. Der Sondenkopf besitzt einen magnetisch aktiven Spalt von ca. 0,5 mm Breite. Zur Messung wird die Sonde mit dem Spalt auf Leiterzüge, IC-Anschlüsse oder Anschlüsse von Kondensatoren aufgesetzt.
Die XF-U 2,5-1 ist eine passive Nahfeldsonde. Sie ist für kleine SMD-Bauteile (Pins) geeignet. Die Nahfeldsonde ist klein und handlich. Sie hat eine Mantelstromdämpfung und ist elektrisch geschirmt. Die Nahfeldsonde wird an einen Spektrumanalysator oder ein Oszilloskop mit 50 Ω Eingang angeschlossen. Die H-Feldsonde besitzt intern einen Abschlusswiderstand.
 
           
          ![Frequenzgang [dBµV] / [dBµA/m]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XF-U 2.5-1_frequency response_en_wPZ.png?v=1761830853767) 
        									![Korrekturkurve H-Feld [dBµA/m] / [dBµV]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XF-U 2.5-1_H-field correction curve_en_wPZ.png?v=1761830853767) 
        									![Korrekturkurve Strom [dBµA] / [dBµV]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XF-U 2.5-1_current correction curve_en_wPZ.png?v=1761830853767)