ICEM 150-1

IC Störaussendungsmessung 150/1 Ohm Methode nach IEC 61967-4

Messung der leitungsgeführten Störaussendungen – Messung mit direkter 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung (IEC 61967-4) im Frequenzbereich 150 kHz – 3 GHz Die Norm IEC 61967-4 legt ein Verfahren zur Messung der leitungsgeführten elektromagnetischen Störaussendung (EME, electromagnetic emission) von ICs durch di…

ICEM Field

Feldgebundene Analyse H+E-Feld

Bei der Messung der HF-Feldauskopplung werden mittels separater Magnet- und E-Feldsonde die jeweiligen Nahfelder gemessen, die von einem IC in seiner Funktion ausgekoppelt werden. Es ist eine weiterführende Untersuchung zu den Tests nach IEC 61967 (TEM bzw. IC-Stripline). Die Messergebnisse helfen d…

ICEM Scan

Surface Scan Messung nach IEC 61967-3

Die Norm IEC 61967-3 stellt ein Prüfverfahren zur Verfügung, welches die elektrischen oder magnetischen Nahfeldkomponenten auf oder nahe der Oberfläche eines IC festlegt. Dieses Diagnoseverfahren dient der Architekturanalyse eines IC wie beispielsweise der Fertigungsplanung und der Optimierung der S…

ICEM SL

Streifenleitung Messung n. IEC 61967-8

Die Norm IEC 61967-8 legt eine Methode zur Messung der elektromagnetischen Strahlung eines IC im Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz fest. Der zu untersuchende IC wird auf einer IC-Messadapter-Leiterkarte (printed circuit board, PCB) montiert, welche sich zwischen dem aktiven Leiter und der Massef…

ICEM TEM

TEM-Zellen Messung nach IEC 61967-2

Die Norm IEC 61967-2 legt eine Methode zur Messung der elektromagnetischen Strahlung eines IC im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz fest. Der zu untersuchende IC wird auf einer IC-Messadapter-Leiterkarte (printed circuit board, PCB) montiert, die in einer passenden Öffnung der transversalen elekt…