DPI-Methode
Vorteil der Messungen mit Probes der Langer EMV-Technik

Bei der Störfestigkeitsmessung mit den Probes der P500-Serie (P501, P502, P503) kann jedes einzelne IC-Pin (z.B. QFP, QFN Packages) oder auch die Balls eines BGAs individuell kontaktiert und mit HF beaufschlagt werden.
Die Messung entspricht der DPI-Methode nach IEC 62132-4, wobei die normalerweise am Pin verschalteten Netzwerke zur Einkopplung der HF in der jeweiligen Probe enthalten sind . Dadurch kann der Frequenzbereich der Messungen bis 3 GHz erweitert werden.
Des Weiteren enthalten die Probes eine integrierte Strom- und Spannungsmessung, was die Optimierung des ICs sowie die Festlegung der Anwendungsanforderungen ermöglicht.

Was wird vom Kunden benötigt?
  • Datenblatt des IC
  • Test-Schaltplan (in Abstimmung mit Testingenieur)
  • Test-Firmware mit Beschreibung (in Abstimmung mit Testingenieur)
  • 5 - 10 ICs mit Test-Firmware
Was bekommt der Kunde?
  • 10 Testleiterkarten, bestückt/unbestückt, je nach Anzahl der Test-ICs
  • Dokumentation der Messergebnisse
  • Testbericht (Test Report - DPI)

Die Erstellung eines Angebots hängt von der genauen Messaufgabe (z.B. Anzahl der Pins, Frequenzbereich) des Kunden ab. Bitte setzen Sie sich mit dem Vertrieb der Langer EMV-Technik GmbH in Verbindung.