IC-Sicherheit
Diese Sonden ermöglichen Ihnen das Einkoppeln von schnellen, transienten Magnetfeld, E-Feld und Strom-Pulse in ICs.
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ICI HH500-15 L-EFT
Puls-Magnetfeldquelle
Die ICI HH500-15 L-EFT Puls-Magnetfeldquelle koppelt schnelle transiente Pulse in Test-ICs (open die) ein. Mit dieser Feldquelle lassen sich Seitenkanal-Analysen durchführen. Zusätzlich kann die Störfestigkeit einzelner Bereiche des Test-ICs untersucht werden.
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ICI E450 L-EFT
Puls-E-Feldquelle
Die elektrische Impulsfeldquelle ICI E450 L-EFT koppelt schnelle Einschwingimpulse in einen Test-IC (offener Chip). Dies ermöglicht eine Seitenkanalanalyse oder das Testen der Immunität einzelner Bereiche des IC.
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ICI I900 L-EFT
Puls-Stromquelle (FBBI)
Die ICI I900 L-EFT Puls-Stromquelle koppelt über eine Federkontaktspitze schnelle transiente Pulse in Test-ICs (Forward Body Biased Injection) ein. Mit dieser Feldquelle lassen sich Seitenkanal-Analysen durchführen. Zusätzlich kann die Störfestigkeit einzelner Bereiche des Test-ICs untersucht werden.
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ICI 03 L-EFT set
IC EM Pulseinkopplung Langer Puls
Das ICI 03 L-EFT Set beinhaltet 3 verschiedene ICI Quellen, welche entweder E-Feld, Magnetfeld oder Strompulse aussenden. Damit können eine sehr genaue und hochauflösende IC-Analyse und Body Biased Injection durchgeführt werden. Zusätzlich lässt sich mit den Quellen Seitenkanalanalyse durchführen, w…