Die im Probe Set Feldeinkopplung 200 ps Langer ESD enthaltenen Feldquellen erzeugen sehr schnelle elektrische und magnetische ESD-Pulsfelder (200 ps). Mit diesen Feldern werden ICs definiert und reproduzierbar beaufschlagt, um ihre Störfestigkeit gegen ESD-Felder zu bestimmen.
Hintergrund ist die ESD-Feldstörfestigkeit von Flachbaugruppen und elektronischen Geräten. Diese werden einer ESD-Prüfung unterzogen (IEC 61000-4-2). Bei diesen Prüfungen entstehen aus den in die Flachbaugruppe eingekoppelten ESD-Störungen neben dem Norm-ESD Pulsfeld auch sehr schnelle elektrische und magnetische Felder (200 ps). Diese Felder wirken auf der Oberfläche der Flachbaugruppe und durchsetzen dabei die Gehäuse der ICs. Wenn die Felder die ICs durchdringen, werden in den ICs Störvorgänge erzeugt.
Die Beeinflussung der ICs über magnetische oder elektrische Felder ist daher ein wesentlicher Störweg neben der leitungsgebundenen Einkopplung der ESD-Störungen über die IC-Pins.
Die mit dem Probe Set Feldeinkopplung 200 ps Langer ESD gewonnen Erkenntnisse über das EMV-Verhalten des ICs fließen in die Entwicklung der Baugruppe ein.
Damit werden aufwendige Redesigns vermieden und Entwicklungskosten reduziert.
Weiterhin wird der IC-Hersteller mit Hilfe der Prüfmethoden zur Ermittlung der IC EMV-Parameter in die Lage versetzt, die Entwicklung von ICs effizienter durchzuführen.
Für den Prüfaufbau werden die IC-Testumgebung ICE1 und externe Geräte benötigt.