Die Nahfeld-Mikrosonde ist für die hochauflösende Messung von magnetischen Nahfeldern konzipiert. Mit der ICR H-Sonde können die folgenden Messungen durchgeführt werden:

• Surface Scan über IC nach IEC 61967-3
• Volumenscan über IC
• Pin-Scan

Die Messspule am ICR-H-Sondenkopf ist horizontal auf die Messfläche ausgerichtet.
Ein Vorverstärker ist im Sondengehäuse integriert und wird vom beiliegenden Bias-Tee versorgt.
Die ICR-Nahfeldsonden werden vor der Auslieferung einem Qualitätscheck unterzogen. Es werden verschiedene Referenzaufstellungsmessungen durchgeführt und daraus resultierende Korrekturlinien erzeugt. Es werden zwei verschiedene Korrekturlinien ermittelt - eine standardisierte Korrekturlinie und eine H-Feld-Korrekturlinie.

Achtung! Die ICR-Sonde ist aufgrund ihrer Konstruktion stoßempfindlich und wird mit einer Schutzkappe für Transport und Handhabung geliefert.